CL05B102KB5NNNC মাল্টিলেয়ার সিরামিক ক্যাপাসিটর MLCC SMD/SMT 1nF+/-10% 50V X7R 1005

পণ্যের বর্ণনা

CL05B102KB5NNNC মাল্টিলেয়ার সিরামিক ক্যাপাসিটর MLCC SMD/SMT 1nF+/-10% 50V X7R 1005

ইওএস (ইলেক্ট্রিক্যাল ওভারস্ট্রেস) এর প্রভাব

বৈদ্যুতিক ওভারস্ট্রেস যেমন একটি সার্জ ভোল্টেজ বা ইওএস এমএলসিসির ক্ষতির কারণ হতে পারে, যার ফলে এমএলসিসিতে ডাইইলেকট্রিক ব্রেকডাউনের কারণে বৈদ্যুতিক শর্ট ফেইলিওর হয়।বা

এমএলসিসির ডাউন টাইম প্রয়োগকৃত ভোল্টেজ এবং ঘরের তাপমাত্রার সাথে পরিবর্তিত হয় এবং ইওএস দ্বারা সৃষ্ট একটি ডাইলেকট্রিক শক ডাইইলেকট্রিকে উত্তাপকে ত্বরান্বিত করতে পারে।অতএব, এটি প্রাথমিক পর্যায়ে একটি বাজারে MLCC-এর ব্যর্থতা নিয়ে আসতে পারে।বা

পরীক্ষা বা মূল্যায়নের জন্য এমএলসিসি প্রস্তুত করার সময় স্পাইক ভোল্টেজ এমএলসিসি সহ অত্যধিক বৈদ্যুতিক ওভারস্ট্রেস প্রয়োগ না করার জন্য দয়া করে সতর্কতা অবলম্বন করুন।

(1) ঢেউ যখন ঢেউয়ের কারণে সৃষ্ট ওভারকারেন্ট এমএলসিসি-তে প্রয়োগ করা হয়, তখন এমএলসিসি-তে কারেন্টের প্রবাহ নীচের গ্রাফে দেখানো ভোল্টেজের ওভারশুটিং ঘটনাকে প্ররোচিত করতে পারে এবং ফলে এমএলসিসিতে বৈদ্যুতিক শর্ট ব্যর্থতা দেখা দেয়।অতএব, এমএলসিসি-তে সার্জ কারেন্টের প্রবাহ রোধ করার জন্য সতর্কতা অবলম্বন করা প্রয়োজন।

(2) ইএসডি (ইলেক্ট্রোস্ট্যাটিক ডিসচার্জ) যেহেতু স্থির বিদ্যুতের ভোল্টেজ খুব বেশি কিন্তু ঢেউয়ের তুলনায় বৈদ্যুতিক চার্জের পরিমাণ কম, তাই নিম্নোক্ত গ্রাফে দেখানো হিসাবে ESD কম ক্যাপাসিট্যান্স সহ MLCC-এর ক্ষতি করতে পারে, যেখানে সারজের সাথে প্রচুর বৈদ্যুতিক চার্জের পরিমাণ এমনকি উচ্চ ক্যাপাসিট্যান্স এমএলসিসি-র ক্ষতি করতে পারে।